품질 · 신뢰성
방산 조달에서 신뢰성은 카탈로그 문구가 아니라 설비와 공정으로 증명됩니다.
설계부터 양산까지 한 곳에서
반도체 IP 설계, 제품 설계, SMT 실장, 시험을 모두 사내에서 수행합니다. 문제의 원인이 컨트롤러에 있든 실장에 있든 같은 팀이 추적합니다.
국산화 · 공급망 신뢰성
핵심 설계 자산을 국내에서 보유하므로 해외 벤더의 단종·수출통제에 종속되지 않습니다. 방산 조달에서 공급 지속성이 곧 신뢰성입니다.
장기 공급
2005년 PATA SSD부터 지금까지 단종된 인터페이스도 계속 공급합니다. 레거시 인터페이스(PATA·SCSI·CF)는 폐기 대상이 아니라 저희의 약속입니다.
Certification
ISO 9001:2015 품질경영시스템
(주)팍스디스크는 2013년 9월 ISO 9001 / KS Q ISO 9001 품질경영시스템 인증을 취득해 저장장치 제조 전 공정을 문서화된 품질 체계 아래에서 운영해 왔습니다.
| 규격 | ISO 9001:2015 / KS Q ISO 9001:2015 |
|---|---|
| 인증 범위 | 저장장치, 광전 증폭 모듈, 전류 센서 모듈의 제조 |
| 최초 인증 | 2013년 9월 13일 |
| 인증기관 | 에이스인증원 (JAS-ANZ · IAF MLA) |
| 인증 상태 | 유지 중 |
Environmental
방산 등급 환경 사양
아래 수치는 팍스디스크 SSD 라인업 전반에 공통 적용되는 사양입니다.
| 항목 | 사양 | 비고 |
|---|---|---|
| 동작 온도 | -40°C ~ +85°C | 방산·산업 등급 공통. 주문형은 최저 -60°C 대응. |
| 내충격 | 1,500G, 0.5ms | 전 제품 공통 사양. |
| 진동 | 16.32G rms | 전 제품 공통 사양. |
| 고도 | -1,200 ~ 120,000ft | 전 제품 공통 사양. |
| 습도 | 5% ~ 95% | 전 제품 공통 사양. |
제품별 상세 환경 사양은 각 제품 페이지의 사양표를 확인해 주세요. 시험 성적서는 견적·기술 문의 시 제공 가능 범위 내에서 안내드립니다.
Infrastructure
보유 시험·생산 설비
열충격 챔버
-40°C ~ +85°C 방산 등급 온도 사양을 사내에서 검증합니다.
열충격 챔버 2
-60°C ~ +150°C 등급 온도 사양을 사내에서 검증합니다.
SMT 라인
설계부터 실장·양산까지 사내에서 수행하여 공급망을 짧게 유지합니다.
Lab & Measurement
보유 시험 · 측정 장비
반도체 소자 특성(I-V·LCR)부터 RF 스펙트럼, 20 GHz TDR, SATA급 고속 시리얼 컴플라이언스까지 — 설계한 것을 스스로 측정할 수 있는 장비를 직접 보유하고 있습니다.
High-speed serial
고속 시리얼 · 컴플라이언스
SATA 등 고속 시리얼 인터페이스의 신호 무결성과 규격 적합성을 사내에서 직접 시험합니다. 인터페이스 IP를 설계한 회사가 그 신호를 직접 측정합니다.
Tektronix
DSA71604
16 GHz 실시간 디지털 시리얼 아날라이저 — 아이 다이어그램 · 지터 분해 · 시리얼 버스 컴플라이언스 분석
Tektronix
AWG7102
10 GS/s 임의파형발생기 — 스트레스 신호·지터 주입에 의한 수신기(RX) 내성 시험
Tektronix
TDS8000B + 80E04 · 80A05
샘플링 오실로스코프 — 20 GHz TDR 모듈로 임피던스·전송선 특성 측정, 10G급 클록 리커버리 아이 분석
RF · Spectrum · Phase noise
RF · 스펙트럼 · 위상잡음
클록 하모닉과 방사 성분을 설계 단계에서 점검하고, 클록 지터의 근원인 위상잡음을 정량화합니다. 위상잡음 측정을 SSD에 도입한 것은 업계에서 당사가 처음입니다(2017).
Hewlett-Packard
HP 8566B
22 GHz 스펙트럼 아날라이저 — RF 스펙트럼 · 클록 하모닉 · EMI 사전 점검
Hewlett-Packard
HP 8561E
30 Hz ~ 6.5 GHz 스펙트럼 아날라이저 — 저주파수 대역 정밀 스펙트럼 분석
Agilent
N5500A + 70420A
위상잡음 측정 시스템 — 클록·오실레이터의 위상잡음 정량화, 지터 근원 분석 (업계 최초 SSD 적용)
Device-level
반도체 소자 특성
보드가 아니라 소자 레벨에서부터 측정합니다. 부품 선별과 고장 분석의 출발점입니다.
Hewlett-Packard
HP 4145B
반도체 파라미터 아날라이저 — 트랜지스터·다이오드 I-V 특성 측정
Keysight
E4980AL
정밀 LCR 미터 — 수동소자·반도체의 임피던스 및 C-V 특성 측정
Hewlett-Packard
HP 4286A
RF LCR 미터 (1 MHz ~ 1 GHz) — 고주파 대역 수동소자 임피던스 특성 측정
측정 의뢰·시험 항목 협의는 견적 문의로 접수해 주세요. 장비 실물과 시험 환경은 방문 시 확인하실 수 있습니다.